繁體
簡體
Eng
Teltec-Taiwan
Teltec-Singapore
光學及半導體器材專家
首頁
+
關於我們
+
產品中心
IC封裝與測試
超聲波掃描顯微鏡
高分辨率X射線檢測設備
熱變形外貌檢測儀
熱風對流回流焊爐
壓力固化爐
全自動條帶研磨系統
光學輪廓儀
臺階儀
原子力顯微鏡 (AFM)
傅氏轉換紅外光譜分析儀(FTIR)
X射線熒光光譜分析儀(XRF)
x射線衍射分析儀(XRD)
納米壓痕/納米力學測試/
摩擦磨損測試/機械性能測試
TriboLab CMP 材料測試儀
自動光學檢測AOI系統
自動晶圓探針臺
等離子清洗機
高溫高功率老化測試爐
芯片拾取放置系統
推拉力測試儀
焊線自動測量系統
離心機
裂縫測試儀
硬接頭、接口及操作手臂
晶圓級/封裝級可靠性測試
(電遷移，經時介質擊穿)
晶圓測試探針卡
自動晶圓貼標機
自動曲線追蹤儀
矽材料/矽產品/半導體專用膠帶
等離子及化學開封機
自動塑封開封機
高分辨率脈沖時域反射計 (TDR)/透射計(TDT)
自動晶圓光學檢測
(Wafer AOI)系統
除錫球機
晶圓原位對準鍵合機
應力及厚度在線量測系統
恒溫恒濕箱/HAST
晶圓/基板/光罩清洗機
光阻顯影機/蝕刻剝離機/
光阻剝離機
濕法蝕刻設備
紫外臭氧清洗機
紫外線擦除器
可焊性測試儀
高低溫沖擊測試
矽材料/矽產品/半導體專用膠帶
矽材料/矽產品/半導體專用膠帶
矽材料/矽產品/半導體專用膠帶
晶圓製造
超聲波掃描顯微鏡
等離子清洗機
晶圓表面汙染分析系統
晶圓內應力測量系統
光刻膠
光刻膠幹膜
自動晶圓光學檢測
(Wafer AOI)系統
光學輪廓儀
臺階儀
原子力顯微鏡 (AFM)
傅氏轉換紅外光譜分析儀(FTIR)
X射線熒光光譜分析儀(XRF)
x射線衍射分析儀(XRD)
納米壓痕/納米力學測試/
摩擦磨損測試/機械性能測試
TriboLab CMP 材料測試儀
磁控濺射機/熱蒸鍍
等離子體線性離子束專利
原子層沈積系統
自動晶圓探針臺
熱變形外貌檢測儀
晶圓原位對準鍵合機
光刻膠幹膜
晶圓/基板/光罩清洗機
光阻顯影機/蝕刻剝離機/
光阻剝離機
紫外臭氧清洗機
紫外線擦除器
晶圓級/封裝級可靠性測試
(電遷移，經時介質擊穿)
晶圓測試探針卡
噴墨塗布機
應力及厚度在線量測系統
芯片拾取放置系統
納米壓印機
光功率計儀
曝光機
自動晶圓貼標機
濕法蝕刻設備
曝光機
高效粒子監測
光學光電子
蒸/濺鍍系統
銦沈積
原子層沈積系統
太陽光模擬器
PV IV測試系統
QE測試系統
信號發生器 (延遲/脈沖發生器)
頻譜分析儀
信號模塊
角分辨光譜儀
共焦顯微拉曼光譜儀
超表面光場檢測系統
拉曼光譜儀/ 物質識別儀
光致/電致發光量子效率
測試系統
太赫茲光譜/成像系統
激光功率器/ 能量檢測器
激光光束診斷
高功率檢測器/衍射光學器件
光學輪廓儀
臺階儀
原子力顯微鏡
(AFM & AFM IR)
傅氏轉換紅外光譜分析儀(FTIR)
X射線熒光光譜分析儀(XRF)
x射線衍射分析儀(XRD)
納米壓痕/納米力學測試/
摩擦磨損測試/機械性能測試
TriboLab CMP 材料測試儀
活體多光子顯微鏡
超高分辨率顯微鏡
激光共聚焦顯微鏡
光電探測器
光學/光電濾光片
中階梯光譜儀
+
應用領域
+
最新消息
+
獎項
+
展會資訊
+
人才招募
+
聯絡我們
+
首頁
品牌
Capcon
Capcon - 自動貼片機
Nou
商品描述
CAPCON
自動貼片機
Capcon - 自動貼片機
品 牌
Capcon
型 號
CAPCON - Die Bonder
庫存狀態
有現貨
$0.00
查詢
查詢
收藏
對比
X
.png)
.png)
.png)
